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    • 產(chǎn)品詳情

    • 產(chǎn)品名稱(chēng)：表面粗度輪廓形狀測(cè)定儀SEF580A小坂KOSAKA

    • 產(chǎn)品型號(hào)： SEF580A
    • 產(chǎn)品廠商：KOSAKA小坂臺(tái)階儀
    • 產(chǎn)品價(jià)格：0
    • 折扣價(jià)格：0
    • 產(chǎn)品文檔：
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    簡(jiǎn)單介紹：
    KOSAKA小坂臺(tái)階儀小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創(chuàng)立，日本**家發(fā)表光學(xué)幹槓桿表面粗糙度計(jì)，具有悠久歷史與技術(shù)背景的專(zhuān)業(yè)廠商,主要有測(cè)定/自動(dòng)/流體三大部門(mén)。XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導(dǎo)體硅片、太陽(yáng)能硅片、薄膜磁頭及磁盤(pán)、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測(cè)量的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用
    詳情介紹：


    KOSAKA小坂臺(tái)階儀
    SEF580A-G18D

    可以進(jìn)行“表面粗糙度”和“輪廓形狀”的兩種測(cè)量。 觸摸面板的使用提供了出色的可操作性，例如“切換測(cè)量條件”，并且可以快速響應(yīng)各種工件的測(cè)量。

    • 表面粗糙度測(cè)量
      • 可以在一次測(cè)量中分析具有不同標(biāo)準(zhǔn)的參數(shù)，并且可以順利過(guò)渡到新標(biāo)準(zhǔn)。
    • 輪廓形狀測(cè)量
      • X軸上的*大測(cè)量采樣點(diǎn)數(shù)高達(dá)64，000，可實(shí)現(xiàn)高分辨率的長(zhǎng)距離測(cè)量。

    KOSAKA小坂臺(tái)階儀表面粗糙度

    測(cè)量范圍/分辨率 Z軸：600微米/0.08納米
    進(jìn)給速度 0.02~10毫米/秒
    唱針 R2μm  0.75mN以下

    輪廓形狀

    測(cè)量精度 Z：±0.25%（我們的標(biāo)準(zhǔn)）X：±（1+0.02L）μm或更小
    L：測(cè)量長(zhǎng)度（毫米）
    測(cè)量范圍 Z軸：50毫米 X：100毫米
    唱針 R25μm 10~30mN

    表面粗度輪廓形狀測(cè)定儀SEF580A小坂KOSAKA

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