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  • 多功能多通道光譜探測器，支持從紫外到近紅外區(qū)域。 光譜測量可在 5 毫秒內進行。 標準儀器的光纖支持各種測量系統(tǒng)，無需識別樣品類型。 除了顯微分光、光源發(fā)射、透射和反射測量外，它還與軟件相結合，支持物體顏色評估和薄膜厚度測量。
  • 它是一種延遲測量設備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。 實現(xiàn)超高Re.60000nm的高速、高精度測量。 薄膜的層壓狀態(tài)可以通過“無剝離、無損”進行測量。 此外，它還配備了簡單的軟件和校正功能，通過重新放置樣品來糾正偏差，從而輕松實現(xiàn)高精度測量。
  • 特點 使用靜態(tài)光散射法測量優(yōu)良分子量、慣性半徑和第 二維系數(shù)是可能的。 可以對 Zimm 繪圖、伯利圖、Zimm 平方根圖、單濃度圖和 Debye 圖進行各種分析。 系統(tǒng)將詢問您如何安排您的會議。 可選的桿單元支架可實現(xiàn)光纖材料（散裝）的優(yōu)良散射強度測量。
  • 使用動態(tài)光散射方法測量顆粒大小和顆粒大小分布（顆粒大小和顆粒大小分布）是可能的。 您可以選擇 He-Ne 激光、固態(tài)激光和雙激光規(guī)格。 相關計高達 4096ch，可實現(xiàn)多模式分析，如聚合物濃縮溶液。 與可選的凝膠旋轉單元結合使用時，可以分析凝膠狀態(tài)。
  • 特點 使用動態(tài)光散射法測量顆粒大小和顆粒大小分布（顆粒大小和顆粒大小分布），并使用靜態(tài)光散射方法測量優(yōu)良分子量、慣性半徑和第 二維真實系數(shù)。 您可以選擇 He-Ne 激光、固態(tài)激光和雙激光規(guī)格。 采用浸入式細胞光學系統(tǒng)，可以高精度地測量微弱散射的納米級粒子。 相關計高達 4096ch，可實現(xiàn)多模式分析，如聚合物濃縮溶液。 與可選的凝膠旋轉單元結合使用時，可以分析凝膠狀態(tài)。
  • 散射角度為0.33~45°的測量*短為10msec※可以測量 評估亞微米至數(shù)百微米的結構 使用專用電池測量溶液樣品 在軟式 Hv 散射和 Vv 散射測量中輕松切換 桌面類型，可安裝在實驗室中 ※不使用HDR功能時
  • 一臺儀器可輕松連續(xù)測量 5 個樣本，無需自動采樣器即可實現(xiàn) 多個樣本的連續(xù)測量，也可以通過改變每個樣本的條件進行測量。 支持從稀釋到厚系統(tǒng) 標準測量時間 1 分鐘的高速測量 自動調整從厚系統(tǒng)到稀薄樣品的*佳測量位置，實現(xiàn)約 1 分鐘的高速測量 簡單易懂的測量功能（只需單擊一下即可 開始測量），無需復雜的操作 內置非浸沒式細胞塊，無分包的無孔， 每個細胞都是獨立的，因此無需擔心不成問題。 配備 溫度梯度功能，可輕松設置溫度
  • ■納米SAQLA的特點 一臺儀器可輕松連續(xù)測量 5 個樣本，無需自動采樣器即可實現(xiàn) 多個樣本的連續(xù)測量，也可以通過改變每個樣本的條件進行測量。 支持從稀釋到厚系統(tǒng) 標準測量時間 1 分鐘的高速測量 自動調整從厚系統(tǒng)到稀薄樣品的*佳測量位置，實現(xiàn)約 1 分鐘的高速測量 簡單易懂的測量功能（只需單擊一下即可 開始測量），無需復雜的操作 內置非浸沒式細胞塊，無分包的無孔， 每個細胞都是獨立的，因此無需擔心不成問題。 配備 溫度梯度功能，可輕松設置溫度
  • 特點 *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時間 通過自動溫度梯度測量進行變性/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量 增加了廣泛的分子量測量和分析功能 支持懸浮高濃度樣品的顆粒尺寸測量
  • 特點 *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時間 通過自動溫度梯度測量進行變性/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量 支持懸浮高濃度樣品的Zeta電位測量 通過測量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測量結果，用于測量單元中的電滲透流 支持高鹽濃度溶液的Zeta電位測量 支持小面積樣品的平板Zeta電位測量
  • 特點 *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時間 通過自動溫度梯度測量進行變性/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量 增加了廣泛的分子量測量和分析功能 支持懸浮高濃度樣品的顆粒直徑和Zeta電位測量 通過測量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測量結果，用于測量單元中的電滲透流 支持高鹽濃度溶液的Zeta電位測量 支持小面積樣品的平板Zeta電位測量
  • 從稀釋到濃縮的溶液（~40%）*1可在廣泛的濃度范圍內測量顆粒大小和 Zeta 電位 多角度測量可實現(xiàn)高分離粒徑分布的測量 可在高鹽濃度下測量平板樣品的Zeta電位 使用靜態(tài)光散射法測量顆粒濃度 動態(tài)光散射法可實現(xiàn)微流變測量 通過多點測量凝膠樣品，可以評估凝膠的網狀結構和異質性 標準流單元可連續(xù)測量顆粒大小和 Zeta 電位 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量 溫度梯度功能允許蛋白質的變性和相變溫度分析 通過測量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測量結果，用于測量單元中的電滲透流 可安裝熒光切割過濾器（可選）
  • 使用單個設備分析不同的成分，如陽離子和陰離子。 微量樣品可實現(xiàn)短時間、高分辨率的分析。
  • 評估光源在紫外區(qū)域的輻射強度。 ? 通過光譜輻射測量高精度測量 亮度 ，支持 紫外、可見、紅外和廣泛的測量波長范圍，可實現(xiàn)光生物學**評估 這是一個有限的設備，可以測量紫外線的亮度。
  • 評估紫外 LED 的輻射束。 ? 高性能紫外 LED 的輸出評估 與溫度控制單元結合使用時，溫度評估 支持紫外線 LED 的光學特性評估，預計這些特性是**、凈化和樹脂固化。
  • 基于與 NIMS 共同開發(fā)的單粒子診斷方法進行測量。* ? 與國家材料科學研究所 研究員高崎正彥和武田高富史合作
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