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    • 產(chǎn)品詳情

    • 產(chǎn)品名稱：OPTM顯微分光膜厚儀_Otsuka大塚_OPTM-A2

    • 產(chǎn)品型號： OPTM-A2
    • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
    • 產(chǎn)品價格：0
    • 折扣價格：0
    • 產(chǎn)品文檔：
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    簡單介紹：
    頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的**機制 OPTM顯微分光膜厚儀 OPTM顯微分光膜厚儀_Otsuka大塚_OPTM-A2OPTM顯微分光膜厚儀_Otsuka大塚_OPTM-A2
    詳情介紹：


    顯微分光膜厚儀OPTM series


    顯微分光膜厚儀OPTM series


















    特點


    頭部集成了薄膜厚度測量所需功能
    通過顯微光譜法測量高精度**反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)）
    1點1秒高速測量
    顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外）
    區(qū)域傳感器的**機制
    易于分析向?qū)?，初學(xué)者也能夠進行光學(xué)常數(shù)分析
    獨立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求
    支持各種自定義



    使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過**反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學(xué)常數(shù)分析?？赏ㄟ^非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學(xué)材料和多層膜。 測量時間上，能達到1秒/點的高速測量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學(xué)常數(shù)的軟件



    OPTM-A1 OPTM-A2 OPTM-A3
    波長范圍 230 ~ 800 nm 360 ~ 1100 nm 900 ~ 1600 nm
    膜厚范圍 1nm ~ 35μm 7nm ~ 49μm 16nm ~ 92μm
    測定時間 1秒 / 1點
    光斑大小 10μm (*小約5μm)
    感光元件 CCD InGaAs
    光源規(guī)格 氘燈+鹵素?zé)?  鹵素?zé)?/span>
    電源規(guī)格 AC100V±10V 750VA（自動樣品臺規(guī)格）
    尺寸 555(W) × 537(D) × 568(H) mm (自動樣品臺規(guī)格之主體部分)
    重量 約 55kg（自動樣品臺規(guī)格之主體部分）


    *目前蘇州地區(qū)有樣機可供測試

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