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產(chǎn)品中心
產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：蘇州代理 大冢電子膜厚監(jiān)測儀FE-300

  • 產(chǎn)品型號：
  • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價格：0
  • 折扣價格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡單介紹：
它是一種緊湊且價格低廉的薄膜厚度計，通過高精度光學干涉法實現(xiàn)薄膜厚度測量，操作簡單。 我們采用一體式外殼，將必要的設(shè)備容納在主體中，實現(xiàn)穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。 可以通過以低廉的價格獲得優(yōu)良反射率來分析光學常數(shù)。
詳情介紹：

產(chǎn)品信息

特殊長度
  • 支持從薄膜到厚膜的各種膜厚
  • 使用反射光譜的薄膜厚度分析
  • 實現(xiàn)非接觸、非破壞的高精度測量，同時緊湊且價格低廉
  • 簡單的條件設(shè)置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
  • 可以通過峰谷法、頻率分析法、非線性*小二乘法、優(yōu)化法等進行多種薄膜厚度測量。
  • 通過非線性*小二乘膜厚分析算法可以進行光學常數(shù)分析（n：折射率，k：消光計數(shù)）。

 

測量項目
  • 優(yōu)良反射率測量
  • 膜厚分析（10層）
  • 光學常數(shù)分析（n：折射率，k：消光計數(shù)）

 

測量對象
  • 功能膜、塑料
    透明導電膜（ITO、銀納米線）、相位差膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、粘合劑、粘合劑、保護膜、硬涂層、防指紋， 等等。
  • 半導體
    化合物半導體、Si、氧化膜、氮化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、藍寶石等
  • 表面處理
    DLC涂層、防銹劑、防霧劑等
  • 光學材料
    濾光片、AR涂層等
  • FPD
    LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有機膜、灌封膠）等
  • 其他


  • 硬盤驅(qū)動器、磁帶、建筑材料等。

    規(guī)格

    規(guī)格
    類型 薄膜型 標準型
    測量波長范圍 300-800nm 450-780nm
    測量膜厚范圍
    （SiO 2換算）     		3nm-35μm 10nm-35μm
    光斑直徑 φ3mm / φ1.2mm
    樣本量 φ200 × 5 (H) mm
    測量時間 0.1-10s內(nèi)
    電源 AC100V ± 10% 300VA
    尺寸、重量 280 (W) x 570 (D) x 350 (H) 毫米，24 公斤
    其他 參考板，配方創(chuàng)建服務(wù)

    設(shè)備配置

    光學家譜

    FE-300膜厚測量光學系統(tǒng)圖

     

    軟件畫面


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