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    • 產(chǎn)品詳情

    • 產(chǎn)品名稱：塔瑪薩崎Otsuka大塚分析儀器

    • 產(chǎn)品型號：多樣品納米顆粒直徑測量系統(tǒng)納米SAQLA（帶自動采樣器AS50）
    • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
    • 產(chǎn)品價格：0
    • 折扣價格：0
    • 產(chǎn)品文檔：
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    簡單介紹：
    特點 ■納米SAQLA的特點 一臺儀器可輕松連續(xù)測量 5 個樣本，無需自動采樣器即可實現(xiàn) 多個樣本的連續(xù)測量，也可以通過改變每個樣本的條件進(jìn)行測量。 支持從稀釋到厚系統(tǒng) 標(biāo)準(zhǔn)測量時間 1 分鐘的高速測量 自動調(diào)整從厚系統(tǒng)到稀薄樣品的*佳測量位置，實現(xiàn)約 1 分鐘的高速測量 簡單易懂的測量功能（只需單擊一下即可 開始測量），無需復(fù)雜的操作 內(nèi)置非浸沒式細(xì)胞塊，無分包的無孔， 每個細(xì)胞都是獨(dú)立的，因此無需擔(dān)心不成問題。 配備 溫度梯度功能，可輕松設(shè)置溫度 ■AS50的特點 連續(xù)測量多達(dá) 50 個樣本 即使在測量過程中也能添加樣品 樣品集簡單方便（*多可批量更換 50 個樣品） 有機(jī)溶劑兼容（玻璃一次性電池） 樣品容量 *小 0.4ml
    詳情介紹：

    規(guī)格

    手勢
    類型表達(dá)式 多樣品納米顆粒直徑測量系統(tǒng)
    測量原理 動態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）
     光源 大功率半導(dǎo)體激光器（660nm，70mW） *1
    探測器 高靈敏度 APD
    連續(xù)測量 *多 5 個樣本
    測量范圍  0.6nm ～ 10μm
    濃度范圍  0.00001 ～ 40% *2
    溫度范圍 0 至 90°C（帶溫度梯度功能） *3
    樣品容量 角單元：1.2mL~，微量單元：20μL~
    大小  W240 X D480 X H375 mm
    功耗  AC 100～240V 50/60Hz、250VA
     重量 約 18 千克
    軟件 平均顆粒直徑分析（庫姆蘭特方法）
    粒子大小分布分析
    （馬夸德特/繼續(xù)/NNLS/統(tǒng)一方法）
    粒度分布重疊寫入
    反向相關(guān)函數(shù)和殘差圖
    顆粒大小監(jiān)測器
    顆粒尺寸顯示范圍（0.1 至 10）6 nm）
    分子量計算器
    21 CFR 第 11 部分 *4
    選項 微量細(xì)胞（從20μL起），熒光切割濾光片

    *1 本設(shè)備是激光**標(biāo)準(zhǔn) （JIS C6802） 第 1 類產(chǎn)品
    *2 PS Latex 顆粒：0.00001 至 10%，?；撬幔簙40%
    *3 使用卡拉斯塞爾與貼片細(xì)胞支架。
    使用 5 聯(lián)電池座或分配器時為 15 至 40°C
    *4 選項

     

    類型表達(dá)式 自動采樣器 AS50
    測量范圍  3nm ～ 10μm
    濃度范圍  0.001 ～ 40%
    溫度范圍  15 ～ 40℃
    連續(xù)測量 *多 50 個樣本
    樣品容量 AS 電池 0.4mL ~
    大小  W240 X D480 X H275 mm
    （nanoSAQLA+AS50：W480 X D480 X H375 mm）
     重量  12 kg
    （nanoSAQLA+AS50：30kg）
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