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產(chǎn)品中心
產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：OTSUKA大塚 嵌入式膜厚監(jiān)測儀

  • 產(chǎn)品型號：
  • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價格：0
  • 折扣價格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡單介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統(tǒng) ELSZneo OTSUKA大塚 嵌入式膜厚監(jiān)測儀
詳情介紹：


測量示例

硬涂層膜厚分析

硬涂層膜厚分析

特征
  • 使用光譜干涉測量的薄膜測厚儀
  • 搭載高精度FFT薄膜厚度分析引擎（磚利第4834847號）
  • 光纖可以自由地構(gòu)建測量系統(tǒng)。
  • 可集成到各種制造設(shè)備中
  • 可進行實時薄膜厚度測量
  • 支持遠程操作和多點測量
  • 采用長壽命、高穩(wěn)定性白光LED光源

 

測量項目
  • 薄膜厚度

 

用法
  • 光學膜（硬涂層、AR膜、ITO等）
  • FPD相關(guān)（抗蝕劑，SOI，SiO2等）

 




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