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產(chǎn)品中心
產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：OTSUKA大塚 江蘇代理顯微分光膜厚儀OPTM SERIES

  • 產(chǎn)品型號：
  • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價格：0
  • 折扣價格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡單介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理OTSUKA大塚 顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 測量各種薄膜，晶圓，光學材料等涂層薄膜的厚度，以及多層薄膜的厚度，而不會具有破壞性和非接觸性。
詳情介紹：

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理OTSUKA大塚 顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 測量各種薄膜，晶圓，光學材料等涂層薄膜的厚度，以及多層薄膜的厚度，而不會具有破壞性和非接觸性。 


OTSUKA大塚顯微分光膜厚儀OPTM SERIES

OPTM顯微分光膜厚儀是FE-3000反射分光膜厚計的**代產(chǎn)品。OPTM沿用分光干涉法，可測量**反射率、多層膜厚、折射率和消光系數(shù)，納米級測量，精度高。OPTM可用于FPD構(gòu)件（PI膜、ITO膜、CF膜）、光觸媒、汽車零件DLC膜、半導體材料氧化層、光學材料薄膜等材料的無損非接觸式測量，檢測時間僅需1秒。

產(chǎn)品特點：

·非接觸非破壞式測量

·高速拍攝自動對焦，1秒即可得到結(jié)果

·波長范圍廣（紫外-近紅外），可測量厚度或顏色不同的各種薄膜

·操作簡單，無經(jīng)驗也可輕松解析光學常數(shù)

·開放而**的操作臺，光柵傳感器觸發(fā)停止，避免損傷。

產(chǎn)品參數(shù)：


OPTM-A1 OPTM-A2 OPTM-A3
波長範圍 230 ~ 800 nm 360 ~ 1100 nm 900 ~ 1600 nm
膜厚範圍 1nm ~ 35μm 7nm ~ 49μm 16nm ~ 92μm
測定時間 1秒 / 1點

光徑大小 10μm (*小約5μm)

感光元件 CCD InGaAs
光源規(guī)格 氘燈+鹵素燈 鹵素燈
電源規(guī)格 AC100V±10V 750VA（自動樣品臺規(guī)格）

尺寸 555(W) × 537(D) × 568(H) mm (自動樣品臺規(guī)格之主體部分)

重量 約 55kg（自動樣品臺規(guī)格之主體部分）




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