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產品詳情

  • 產品名稱：總代日本HORIBA納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100-S2

  • 產品型號： SZ-100-S2
  • 產品廠商：HORIBA堀場
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簡單介紹：
總代日本HORIBA崛場納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100-S2 納米技術的研發(fā)是一個持續(xù)不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產品。組件的小型化——即納米級控制可以有效實現(xiàn)更快的測量速度、更好的設備性能以及更低的設備運行能耗。納米技術在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學等很多領域發(fā)揮著關鍵作用。
詳情介紹：

總代日本HORIBA崛場納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100-S2  國內各區(qū)域供應

總代日本HORIBA崛場納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100-S2 

粒徑測量范圍0.3 nm ~ 10 μm

SZ-100V2 系列采用動態(tài)光散射 (DLS) 原理測量顆粒粒徑大小及分布，實現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測量，該系列可準確測量低至ppm 級低濃度、高至百分之幾十的高濃度樣品?？墒褂檬惺鄣臉悠烦兀部蓪崿F(xiàn)對小體積樣品的測量。

Zeta 電位測量范圍– 500 ~ + 500 mV

使用 HORIBA Zeta電位樣品池測量Zeta 電位值只需樣品100 μL，通過Zeta電位可預測和控制樣品的分散穩(wěn)定性。Zeta 電位值越高，則意味著分散體系越穩(wěn)定，這對于產品配方的研究工作具有重大的意義。

分子量測量范圍1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da

通過測量不同濃度下的靜態(tài)光散射強度并通過德拜記點法計算樣品的**分子量 (Mw) 和**維里系數(shù) (A2 )。

SZ-100V2 系列具有良好的復雜信息處理能力和學習能力，可快速確定納米顆粒的特性！

  • SZ-100V2 系列具有雙光路設計，既可以測量高濃度的樣品，如漿體和染料；同時也可以用于測量低濃度樣品，如蛋白質、聚合物等。

  • 使用單臺設備即可表征納米顆粒的三大參數(shù)——粒徑、Zeta 電位和分子量

  • HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池可防止樣品對其造成污染。樣品池容量（*低容量100 μL）小適用于稀釋樣品的分析。

  • HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成，該材料不會受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。

SZ-100-S2 測量規(guī)格

型號 SZ-100-S2（**粒徑和分子量測量）
測量原理 粒度測量：動態(tài)光散射
分子量測量：德拜記點法（靜態(tài)散射光強度）
測量范圍 粒徑：0.3 nm 至 10 μm
分子量：1000 至 2 × 10 7 Da（德拜記點）
                             540 至 2× 10 7 Da（MHS 方程）*1
*大樣品濃度

40%*2

粒度測量精度

以100 nm的聚苯乙烯乳膠球體為例，其測量精度為 ±2% （不包括標準顆粒本身的變化）

測量角度

90°和173°（自動或手動選擇）

樣品池 比色皿
測量時間 常規(guī)條件下約 2分鐘（從測量開始到顯示粒度測量結果）
所需樣品量 12 μL *3至 1000 μL（因比色皿材料而異）
分散劑 水、乙醇、有機溶劑

尺寸（毫米）


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