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產品詳情

  • 產品名稱：浙江HORIBA堀場微區(qū)X射線熒光分析儀 XGT-9000SL

  • 產品型號： XGT-9000SL
  • 產品廠商：HORIBA堀場
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簡單介紹：
江蘇區(qū)域供應HORIBA堀場微區(qū)X射線熒光分析儀XGT-9000 速度和靈活性兼?zhèn)涫俏^(qū) X 射線熒光光譜的發(fā)展方向<15μm 超高強度x射線頭，兼具高靈敏度和高空間分辨率高分辨相機和多種照明模式成像雙檢測器！熒光x射線檢測器和透射x射線檢測器輕元素檢測器使元素檢測范圍下延到c元素="" <="" div="">
詳情介紹：

浙江HORIBA堀場微區(qū)X射線熒光分析儀 XGT-9000SL 國內各區(qū)域供應

型號 XGT-9000 XGT-9000SL
基本信息
儀器 微區(qū)X射線熒光分析儀
樣品類型 固體、液體、顆粒
檢測元素 輕元素檢測器：C* – Am
(常規(guī)檢測器：F – Am)
樣品倉尺寸 450(W) x 500(D) x 80(H) 1030(W) x 950(D) x 500(H)
*大樣品尺寸 300(W) x 250(D) x 80(H) 500(W) x 500(D) x 500(H)
樣品*大質量 1 kg 10 kg
光學觀察 兩個帶物鏡的高分辨率相機
光學設計 垂直同軸 X 射線和光學觀察
樣品照明/觀察 頂部、底部和側向照明/明場和暗場
X-射線管
功率 50 W
電壓 *高50 kV
電流 *大1 mA
靶材 Rh
X射線光光學系統(tǒng)
X射線頭數量 *多配置四個
光譜優(yōu)化初級X-射線濾光片   5個位置
檢測器
熒光X-射線檢測器 硅漂移檢測器（SDD）
透射X射線檢測器 NaI(Tl)
掃描分析
掃描范圍 100 mm x 100 mm 350 mm x 350 mm
步進尺寸 2 mm 4 mm
Operating mode
樣品環(huán)境 全真空/局部真空/大氣環(huán)境/He吹掃（選配）

局部真空/大氣環(huán)境/He吹掃（選配）*He吹掃條件對于兩個檢測器都檢測到C和F是必要的。

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