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產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：OTSUKA大塚電子ELSZneo粒徑儀 塔瑪薩崎代理

  • 產(chǎn)品型號：
  • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價格：0
  • 折扣價格：0
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簡單介紹：
OTSUKA大塚電子ELSZneo粒徑儀塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評估物理性能到一個新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。 作為一項新功能，采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。 它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網(wǎng)絡結(jié)構(gòu)分析。
詳情介紹：

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多角度測量，分離度更高

通過從前、側(cè)、后三個角度進行測量和分析，它提供了更高分辨率的粒度分布。
單角度測量無法分離的樣品可以通過三角度測量和分析分離成多個峰。

多角度 1 角度測量
多角度測量3角度

 

顆粒濃度測量

靜態(tài)光散射法可以計算溶液中的顆粒濃度。

顆粒濃度

微流變測量

動態(tài)光散射可以測量聚合物和蛋白質(zhì)等軟結(jié)構(gòu)的粘彈性。

流變測量

 

在高鹽濃度環(huán)境中進行平面樣品測量

新的扁平池單元測量扁平樣品的表面zeta電位。
新開發(fā)的高鹽濃度涂層可在高鹽濃度環(huán)境（154 mM NaCl溶液）下進行測量，并實現(xiàn)生物相容性材料的評估。

平板數(shù)據(jù)

在寬濃度范圍內(nèi)測量 Zeta 電位和粒徑

對于濃度范圍為 0.00001% （0.1 ppm） 的稀釋溶液至濃度高達 40% 的濃縮溶液，可以測量粒徑和 zeta 電位。

濃度相關(guān)

代理品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設(shè)備、液晶層間隙量測設(shè)備等）、SANKO三高、NPM日脈、東機產(chǎn)業(yè)（粘度計）、CCS（視檢查光源）、Aitec（視檢查光源）、REVOX萊寶克斯（視檢查光源）、EYE巖崎（UV汞燈）、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源 索尼克（風速計、流量計等）、坂口電熱（加熱器、制冷片）、NEWKON新光（針孔機）、NS精密科學（柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵）   、SIBATA柴田科學、SAKURAI櫻井

優(yōu)勢品牌：AND艾安得、TOA-DKK東亞電波、JIKCO吉高、RKC理化工業(yè)、KYOWA共和、IIJIMA飯島電子、HORIBA堀場、EXCEL艾庫斯、HEIDON新東科學、USHIO牛尾、TOPCON拓普康、ORC歐阿西、SEKONIC日本世光、Tokyokoden東京光電、DSK電通、SAGADEN嵯峨電機、FUNATECH船越龍、HIKARIYA光屋、POLARION普拉瑞、HAYASHI林時計、MACOME碼控美、TML東京測器等等各日本品牌工業(yè)產(chǎn)品

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理、直營各日本品牌工業(yè)產(chǎn)品，聯(lián)系人：張小姐

聯(lián)系電話（微信）：15902189399 

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